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X射線異物檢測?
X射線異物檢測
透過被測物體能量發生不同程度衰減的X射線由檢測器檢測。檢測到的X射線經過圖像分析技術等處理后可以得到二維圖像。這種檢測得到的圖像與標準物體的X射線圖像進行比較，便可進行液位判斷或被測物體是否含有異常物體。
與金屬檢測器相比X射線檢測系統可以檢測更多種類的污染物。除了金屬以外，X射線檢測系統還可檢測食品中存在的玻璃、石塊和骨骼等物質，同時還能夠檢測到鋁箔包裝食品內的不銹鋼物質。值得一提的是，含有高水分或鹽分的食品以及一些能降低金屬檢測器敏感度的產品，也可以用X射線檢測系統進行檢測。除了雜質以外，X射線探測器還可檢視包裝遺留或不足、產品放置不當及損壞的產品。例如，在多種巧克力混裝的產品中，由于包裝的影響，通常對于2~3支產品的掉落不能被稱重器檢測出來，而X射線探測器卻能檢測到每支產品的漏放。X射線檢測系統的敏感度（可檢測度）主要取決于異物造成X射線的減弱程度在大小和厚度方面與產品相比較的結果，由于X射線不易檢測到密度較低的異物，因此，對紙、繩子和頭發等檢測尚有困難。
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